菱洋エレクトロ株式会社

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2017/03/08 AI / Deep Learning による外観検査を容易にする 「Deep Learning 外観検査評価キット」 の提供を開始

   当社はFactory Automation分野で注目を集める“AI/Deep Learningを用いた外観検査”の導入を容易にする「Deep Learning 外観検査評価キット」の提供を4月より開始いたします。

 

   従前、外観検査には作業員による目視やレーザーによる光切断で検出するシステムが用いられていましたが、人的リソースや確実性の問題、多品種少量生産を主とする製造ラインなどでは製品によってシステム設定を変更する手間など、多くの課題を抱えていました。

 

   当社がこのたび提供を開始する「Deep Learning 外観検査評価キット」は、米国の半導体メーカーであるNVIDIA社が手掛ける「NVIDIA® Jetson™ TX1開発キット」に、株式会社システム計画研究所が開発したAI外観検査ソフトウェア「gLupe」を搭載したモジュール型コンピュータであり、AI/Deep Learningを活用することで従来の課題を解決した外観検査システムの評価を容易に行うことが可能となります。

 

 「Deep Learning 外観検査評価キット」の最大の特徴は「gLupe」を搭載することによって学習に必要なデータ量を圧倒的に抑えることができる点です。通常、Deep Learningで異常状態を判別するためには「正常状態」と「異常状態」の学習がそれぞれ必要となりますが、頻繁に発生するものではない「異常状態」のデータを大量に収集することは難しい上に、全てのパターンの「異常状態」を“異常”と学習させなければならないため、非常に多くの手間と時間を要します。しかし、「gLupe」では数枚のデータから「正常状態」のみを学習し、「正常状態」と合致しないものを“異常”と判別するため、「異常状態」のデータを収集・学習する必要がありません。

 

 

 

 

    当社では、Deep Learningの技術を取り入れようとしている製造業のお客様を中心に、今年度1,000台の販売を目指してまいります。

◆ 販売開始 : 2017年4月

◆ 販売価格 : 95,000円(税別)

 

 

以   上

 

※ 「Deep Learning 外観検査評価キット」の製品ページはこちら

 

※ 製品トピックスに記載している情報は、発表日時点のものです。現時点では、発表日時点での情報と異なる場合がありますので、ご注意ください。

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